Selbst recherchieren

Einfache Patentinformationen können Sie sich kostenlos über Datenbanken im Netz beschaffen. Die Informationen geben Ihnen einen ersten Überblick und können Sie inspirieren. Abfragen in diesen Datenbanken ersetzen aber nicht die professionelle Recherche eines Experten.

 

Nationale Datenbanken

Fast alle Patentämter publizieren die nationalen Anmeldungen und Erteilungen in öffentlich zugänglichen Datenbanken. Einige Beispiele:

  • Swissreg
    Sobald veröffentlicht, sind die Schweizer Schutztitel (Marken, Patente, Designs und Topographien) über verschiedene Suchmasken zugänglich.
  • USPTO (USA)
    Umfasst US Patentschriften einschliesslich Design-Patente, Pflanzenpatente und Marken
  • UK IPO (UK)
    Umfasst UK Patentschriften und Marken

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Nationale asiatische Datenbanken mit Maschinenübersetzungen

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Weltweite Suche nach Patentschriften

  • Espacenet
    Die Datenbank des Europäischen Patentamts enthält über 90 Millionen Patentdokumente aus aller Welt mit Informationen zu Erfindungen und technischen Entwicklungen von 1836 bis heute. Ein Online-Schnellkurs führt in die Verwendung von Espacenet ein. Suchen können Sie mittels Kurzsuche (Smart search) oder über eine erweiterte Suche in Feldern wie Titel, Zusammenfassung, Patentnummer, Anmelder, Erfinder oder Patentklassen (CPC/IPC). Die Suchsprache ist Englisch. Dazu gehört auch die Suche nach Registereintragungen zu Verfahrens- und Rechtsstandsdaten im Europäischen Patentregister (nur für EP-Patentanmeldungen).
  • DEPATISnet
    Die Datenbank des Deutschen Patent- und Markenamts (DPMA) bietet ähnliche Dienste wie Espacenet. Weltweite Abdeckung des Datenbestandes. Sie können in allen Sprachen suchen, sowohl im Titel als auch im Volltext, sofern vorhanden. Es gibt verschiedene Recherchemodi wie die Einsteigerrecherche, die Expertenrecherche, in der auch komplexe Suchanfragen formuliert werden können sowie der Ikofax-Modus für Profis in den Gebieten der Ikofax-Syntax und des DEPATIS-Datenbank-Systems.
  • PATENTSCOPE
    Über dieses System der Weltorganisation für geistiges Eigentum (WIPO) können Sie in 2,7 Millionen internationalen Patentanmeldungen (PCT) sowie in 49 Millionen Patentdokumenten aus regionalen und nationalen Patentsammlungen recherchieren, zum Teil auch im Volltext. Möglich sind einfache Recherchen, Expertenrecherchen sowie strukturierte Recherchen in den einzelnen Feldern wie Titel, Zusammenfassung, Anmelder oder Erfinder.
  • Patent Lens
    Diese Datenbank wird durch Cambia unterhalten, eine nicht gewinnorientierte, internationale Forschungsorganisation in Australien, welche durch die WIPO und die FAO (Food and Agriculture Organization of the United Nations) unterstützt wird. Die Datenbank enthält über 90 Millionen Dokumente aus der ganzen Welt. Es sind Stichwörter-, Klassen- und Biosequenz-Suchen möglich.

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Suche in Patentklassen

Patentklassifikationen sind Ordnungssysteme, in denen Patentdokumente anhand der in ihnen beschriebenen technischen Merkmale geordnet werden, unabhängig von Sprache und Terminologie. Diese Klassifikationssysteme können in praktisch allen Datenbanken durchsucht werden. Verschiedene solcher Systeme sind in Gebrauch, zwei der wichtigsten sind die folgenden:

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Weitere Klassierungssysteme

  • FI/F-Terms: Japanische FI-Klassifikation und F-Terms
  • ECLA: Die europäische Patentklassifikation (ersetzt durch CPC). Sie ist für ältere Dokumente eventuell noch relevant.
  • USPC: Die US-amerikanische Patentklassifikation (teilweise nun in der CPC). Sie ist für ältere Dokumente eventuell noch relevant.
  • DEKLA: Das Klassifizierungssystem des Deutschen Patent- und Markenamtes (DPMA)
  • DWPI Classification: Derwent World Patents Index Classification ist ein einfaches Klassifikationssystem, mit dem Patentdokumente aus der Chemie, dem Ingenieurwesen und der Elektronik kategorisiert werden.

 

Wir geben Ihnen gerne telefonisch Auskunft (Tel. +41 31 377 77 77). Bei Bedarf stehen auch Patentexperten zur Verfügung.

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